霍尔效应测试仪用于测量半导体材料的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等重要参数。要了解霍尔效应测试仪半导体材料的电学特性，必须事先控制好这些参数，所以它是了解和研究半导体器件和半导体材料电学特性必不可少的工具。

霍尔效应测试仪的主要特点

1.高精度电流源

输出电流的精度可以达到2nA，这样小的电流可以用于半绝缘材料的测量，即高阻材料的测量。

2.高精度电表

采用超高精度仪表，电压测量容量可达nV级，上限可达300V，非常适合霍尔效应测试仪测量低电阻材料。

3.霍尔效应测试仪外观简化，操作简单。

外观轻巧、美观大方，磁铁组极性变换灵活方便。液氮容器的独特设计可以确保低温测量的较佳稳定性。

4.伏安曲线

通过图表测量探针的四个点(A、B、C、D)之间的电流-电压曲线，从而判断样品的欧姆接触。

5.简单易用的操作屏幕

用户只需在同一个操作屏幕中完成所有设置，实验结果由软件自动计算并同屏显示，省去了屏幕切换的麻烦。结果获得了体载流子浓度、面载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等重要实验数据。可以同时获得。

6.自行研制的弹簧样品夹和特殊设计的弹簧探针改善了探针与接触点的电接触，增加了霍尔效应测试仪测量的可靠性。

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