搜索
SUCHE
搜索 CH-EN
.
当前位置:
首页
/
/
/
霍尔效应测量系统
1/1
浏览量:
1000

霍尔效应测量系统


温度:80-500K, 300-730K, 常温
磁场:可变电磁场0.5T,1T,1.4T, 2T, 永磁场0.5T
载流子浓度
迁移率
电阻率
霍尔系数
判断PN结
浏览量:
1000
所属分类
光电测量
数量
-
+
1
产品详情

美国TST(原MMR)公司,与斯坦福大学合作开发了专业的致冷器,其具有特别小的震动(埃米级别)、宽控温范围(70~730K)及高温度稳定性(0.1K),并将其应用在以下测量系统,提高了系统的整体性能。各个系统均采用模块设计,客户可根据实际要求配置系统,也方便日后升级。其主要客户有Standford Univ,University of CambridgeAT&&Bell Labs,NASA,IBM,Intel,AMD,中科院等。

霍尔效应测量系统主要用于研究光电材料的电学特性,可以测量材料在不同温度、磁场下的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数及载流子类型

系统组成:

主要参数:

 

  1. 样品固定方式:弹簧探针或引线治具

  2. 温度:80~500K;室温~730K;室温(可选)

  3. 磁场:5000Gauss永磁铁,5000Gauss电磁场, 1T电磁场, 1.4T电磁场, 2T电磁场(可选)

  4. 温度稳定度:<=0.05K

  5. 温度响应:1K/sec

  6. 致冷片:10X14 mm

  7. 电阻率:10-6~1013 Ohm*cm

  8. 载流子迁移率:1~107 cm2/volt*sec

  9. 载流子浓度:103~1019cm-3

  10. 电流范围:1 pA~10mA

  11. 电压范围:+/-2.5V,最小可测到6X10-6 V

  12. 电阻范围:10 m Ohms~ 10G Ohms

 

主要特点:

1.测量范围广,适用性强,同时兼容低阻样品和高阻样品
2.温度变化范围广,从低温连续变化到高温
3.升降温速度快
4.无机械、声音、电子等噪声
5.内置温度传感器和磁场传感器
6.温度稳定性、准确度高
7.模块化设计,方便升级不同磁场、温度
8.样品腔室全暗或带玻璃窗口,可做光敏实验
9.样品腔室可以是真空,也可以充入气体
10.后续可增加配件,测量塞贝克效应

 

主要客户:

uStandford Univ
uUniversity of Cambridge
uNo. Carolina State Univ
uAT&&Bell Labs
uNASA
uIBM
uIntel
uAMD
uCorning Inc
uPhilips Lumileds Lighting
uLockheed Martin
uToyota Tech Center
uSeagate
u山东大学
u上海交通大学
u北京航空航天大学
u北京师范大学
u天津理工大学
u华南理工大学
u西安工业大学
u陕西科技大学
u东北大学
u常州大学
u上海光机所
u上海微系统所
u新疆理化所
u福建物构所
u沈阳金属所

 

关键词:
霍尔效应测量系统
霍尔测试仪
载流子浓度
迁移率
电阻率
霍尔系数
判断PN结
变温霍尔效应测量系统
变温霍尔测试仪
Hall Measurement System
未找到相应参数组,请于后台属性模板中添加

相关产品

上一页
1
2
涉科
这是描述信息

热线:021-6208 3715

这是描述信息

地址:上海市嘉定区银翔路799号606-1

Copyright 2022 上海涉科光电科技有限公司   沪ICP备17009798号-1    SEO