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扫描型X射线荧光光谱仪

特有的保护功能，屏蔽外部干扰和影响（电源要求:220V+15%, -10%；接地电阻要求：≤30Ω ）；精密的气体控制系统，P10气体耗量低至5ml/min；世界首创波长色散X射线荧光250μm微区分析功能超高速扫描(300°/min)，可进行简单而快速的定性·定量分析；利用高次线解析可以进行准确的定性·定量分析；配置有高分子薄膜的膜厚测定与无机成分分析的背景基本参数

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所属分类

光电测量

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产品详情

结构特点

•特有的保护功能，屏蔽外部干扰和影响

（电源要求:220V+15%, -10%；接地电阻要求：≤30Ω ）

•精密的气体控制系统，P10气体耗量低至5ml/min

•世界首创波长色散X射线荧光250μm微区分析功能

•超高速扫描(300°/min)，可进行简单而快速的定性·定量分析

•利用高次线解析可以进行准确的定性·定量分析

•配置有高分子薄膜的膜厚测定与无机成分分析的背景基本参数

满足不同领域的应用

半导体，磁性材料，催化材料，能源电池，电容器，航天材料，薄膜镀层等

食品、饮料、化妆品、药品等

润滑油，催化剂、高分子聚合物，橡胶，有机制品，涂料、化学纤维等

金属矿物、钢铁、金属镀层、铝铜铅锌、贵金属等

土壤，水系沉积物、河海水，大气粉尘，工业废物，肥料，植物等

岩矿，稀土矿石，文物考古，土壤勘探等

水泥，陶瓷，耐火材料，玻璃，石灰石，粘土，高岭土等

实现世界首创的250μm微区分布成像分析功能

利用 CCD 摄像头可以直接观察样品（选购件）

用500μm光阑和和数字处理数据的显示，可以实现250μm微区图像显示。与CCD摄像头相组合，可得到更加确定的分析结果。

微区分析

1994年，本公司在传统的10～30mm大面积测量、分析平均含量的性能（功能）优异的光谱仪中，添加了微区分析功能，并在世界上首选推出了具有微区分析功能的XRF-1700光谱仪。

XRF-1800是XRF-1700升级产品，在性能和功能方面均有改进，其最小分析直径可达500μm（显示直径250μm）。

微区分析系统结构

独自开发的特殊形状的滑动式视野限制光阑，利用r方向滑动与样品旋转控制的θ转动，可以在30mm直径内的任意位置进行分析

分析位置指定的方法

根据微区分析刻度盘（标准附件）与CRT画面，指定任意位置。另外还可以根据CCD摄像头（选购件）的样品画面指定分析位置

应用实例

元素分布成像分析

指定位置分析

利用高次谱线的定性·定量分析

可以同时测定常规的1次谱线与高次谱线的谱峰。

高次谱线的判定更加准确，可以提高定性·定量分析的准确度与可靠性。

用脱机数据处理，1次谱线与高次谱线可以交替显示，也可以两者重叠显示。这样高次谱线的影响就一目了然

高次普线峰

从样品发射的荧光X射线，由分光晶体按布拉格公式（2dsinθ=nλ）分光后，被检测器计数，但在分光的时候，除了一次线X射线（n=1）以外，高次线（n=1）以外，高次线（n≥2、3…）也被分光，并进入到检测器中。

通常为了避免高次谱线的影响，从左图的脉冲高度分布图中，只对1次谱线范围的荧光X射线进行计数，作为1次谱线峰的测定。但是，当高次谱线的强度比较强的情况下，高次谱线的影响就不能忽视，形成重叠峰出现在一次线峰上，所以在有些情况下，不能正确地进行峰的判断和强度的测定。

因此，将高次线范围的X射线，作为[高次线峰]，一次线范围的X射线作为[一次线峰]同时进行测定。然后将一次线峰和高次线峰进行对比，可以方便地检查高次线的影响。

1次谱线峰高次谱线峰的比较实例

1次谱线峰中，MgKα与CaKα的3次谱线重叠

高次谱线中，显示出CaKα的3次谱线比较强

测定高分子薄膜的膜厚与无机成分分析的背景基本参数法

高分子薄膜分析中，利用康普顿散射线的理论强度作为高分子薄膜的信息

利用康普顿散射／瑞利散射的强度比计算出荧光 X 射线分析不能得到的氢（H）元素的信息

应用实例

彩色涂层钢板的测定实例

电容器薄膜的测定实例

超高速扫描（300°/ min）功能进行简单·快速的定性定量分析

样品分析过程

用简单的操作，可以进行全元素（Be-U）(＊)的定性分析和利用无标样 FP法的定量分析。

*分析Be～N时，要使用选购的分光晶体

简单分析

用鼠标指定样品旋转台的样品位置进行分析。进行全元素的定性和FP法的定量分析。

根据化合物形态，样品形态及分析时间，选择分析条件。

超高速定性·定量分析

利用超高速定性分析功能（300°/min）只需2.5min就可以完成Be-U的定性分析，以及FP法的定量分析。

新版特有软件

模块化快速简易分析

对应于液体、粉末、固体、金属、氧化物等不同形态的样品具有相应的分析条件，在这基础上可编制最佳的分析条件。

每一个模块显示条件设定的指南，保证无错误操作。

”SFP2011“，新型无标样定性-定量分析软件，配备专用校准样

专利的金属分析系统，“校正FP法”，抛弃传统的“标样工作曲线法”，完美的实现铁基、镍基、钴基、钛基、铜基、铝基等所有元素的定量分析。

可靠实用的样品运送系统

— 永无装卸故障的，岛津独自研制的摇臂机械手方式一

粉末样品万一破损时，只在预抽真空室中洒落，而不会污染处于真空中的分析室

只要把预抽真空室返回到放置样品的一侧，即使仪器处于通电状态，也能清扫预抽真空室

摇臂机械手机构的动作

① 将样品容器放置到预抽真空室。

② 摇臂机械手开始动作，将样品运送到分析一侧。

③ 预抽真空结束后，真空快门打开，样品被推送到分析位置。

④ 分析结束后，样品被送回预抽真空室。

⑤ 真空快门关闭，预抽真空室返回大气状态，经摇臂机械手的一次性动作移动到样品旋转台一侧。

⑥ 将样品容器从预抽真空室送回到旋转样品台。

利用摇臂机械手和推举机构，快速导入样品

具有驱动轴少、简单、可靠性高的快速装卸机构。
只有样品上下移动与摇管机械手移动2种动作，就可以将样品从旋转样品台移动到分析位置。
因为摇管机械手位于分析室的外侧，不会有样品容器在真空中横向移动。

样品容器

样品容器表面定位方式，实现高重现性。
用于微区分析的样品容器上具有基准方向刻槽，可以准确设定样品方向

安全性高·操作灵活的8位样品的旋转台

样品交换在旋转样品台下面进行，在更换样品的过程中不需要停止运行，任何时候可以安全地交换样品。
旋转样品台双向旋转，可在最短时间内置于交换位置。
40位样品的自动供样器ASF-40可以满足大量样品的分析(选购)

预置试样真空室
具有能快速抽真空的小型预置试样真空室，可以快速地预抽真空

长期稳定性好，充分发挥 X 射线管性能的检测器和计数电路系统

配置有高精度气体密度稳定器，检测器的气体流量很小，检测器和计数电路系统的长期稳定性好。

自动灵敏度控制(ASC)功能，在微量元素到主成分分析中，可使4KW薄窗 X 射线管充分发挥其性能。

闪烁晶体计数器（SC）
●因为SC是在真空状态的分光室中，因而没有分光室窗口材料与空气的吸收，光
路也很短，灵敏度高。同时避免了由于闪烁晶体(Nal)的潮解引起的劣化。

流气正比计数器（FPC）
●FPC的窗口采用长寿命的高分子薄膜，窗口交换也采用卡盒方式，既简单而又
不降低光学系统的重现性。
●由于装置了高精度的气体密度电子控制稳定器，P10气控制在最低的流量
5mI/min，因而降低运行成本，也不需要芯线清洗等机构。系统随仪器的启动、
停止时间而定时控制。
●因为PR气的流量很低，芯线几乎无污染。长期使用后更换，也采用简单的卡盒
方式。

自动灵敏度控制（ASC）功能
●在以4KW满功率进行测定时，在主成分元素的谱线上产生检测系统的漏计，峰
被劈开或者不能得到本来的强度。在这种情况下，自动灵敏度控制功能
（Auto-Sensitivity ControI Sys-tem；ASC）只在产生漏计数的区域内自动设置衰
减器或者降低Ｘ射线管的电流，以成线性的灵敏度再进行测定。再测定的Ｘ射线
强度，经灵敏度校正后以合成方式显示

●自动灵敏度控制（ASC），可使主成分的谱线以确保线性的灵敏度进行测定，
而其他元素和微量元素是在4KＷ满功率下进行测定，因而可以得到准确的Ｘ射线
强度和定性分析结果。在这个数据的基础上，用FP法进行的定量分析也可以得到
准确的定量分析结果。

高计数率
●高线性计数与峰位移修正功能，可以保证高精度分析。

维护容易
LAB CENTER具有可靠性高的维护功能，可长期保持最佳状态。
数据处理的画面上监测仪器的状态，并进行各个部件的调整。